검사�설비검사�설비 FOV timeFOV time 불량검사�가능불량검사�가능 BGA, chip, QFN, QFP 등BGA, chip, QFN, QFP 등 불량검사�가능불량검사�가능 단락, 휨, 미삽, 오삽�등단락, 휨, 미삽, 오삽�등 검사�설비검사�설비
검사�설비 4.3초 / FOV 검사�설비 4.3초 / FOV 고해상도 + 긴�수명 고해상도 + 긴�수명 저감기술 저감기술 Nano Pulse Beam 10% X-ray source required Nano Pulse Beam 10% X-ray source required SEC Filter 시료손상 80% 감소효과 SEC Filter 시료손상 80% 감소효과 Collimator Interference with Chips within 0.1% Collimator Interference with Chips within 0.1%